可控硅的性能测量及极性判别
时间：2023-12-25 13:46:24来源：可控硅的性能测量及极性判别？
可控硅是一种具有重要应用的半导体器件，其性能测量主要包括正向和反向直流电压降、触发电流、维持电流等参数的测量。
极性判别则可以通过测量可控硅的三个极之间的电阻值来进行，通常可控硅的触发极与阳极之间的电阻值最大。
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